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诺瓦星云“核心检测装备”,如何助力MLED价值成长

字体变大  字体变小 发布日期:2023-06-19  浏览次数:1010
核心提示:作为备受瞩目的新一代显示技术,MLED(Mini/Micro LED)显示已处于产业价值爆发前段,产业链技术瓶颈正被逐一攻克。

 作为备受瞩目的新一代显示技术,MLED(Mini/Micro LED)显示已处于产业价值爆发前段,产业链技术瓶颈正被逐一攻克。

前瞻阅读:显示技术频频突破,MLED跑步进入产业化爆发前段
在生产制造环节,诺瓦星云“核心检测装备”已批量成功应用,解决了“MLED显示一致性””墨色一致性”“侧视角一致性”“巨量转移的质量检测与修复”等量产难点问题,助力行业伙伴实现MLED显示屏标准化、规模化制造,助推产业价值爆发。
 
△诺瓦星云MLED检测装备应用现场
 

难点1:显示一致性问题
 
消除显示一致性问题,对MLED量产意义重大。
从显示画质看,因材料、制程、工艺等多种因素,会导致MLED显示屏不可避免地出现显示不一致(Mura缺陷),带来亮度色度偏差与不均匀性,导致显示瑕疵,减损用户观看体验,必须要进行屏幕校正。
相比传统LED,MLED的发光芯片尺寸大幅缩小,同时像素点间距也大幅缩小,随着微缩化,带来的光学问题也更加严重。同时,进入小间距与微间距时代,MLED封装形式也发生变化,没有混灯环节,单元板之间光学结构性偏差增大,需要进行更深度的控制与校正。相对LCD、OLED校正,因为MLED的亮度高、色差大,技术要求要高很多。比如,液晶和OLED只需要8bit亮度校正,LED至少需要12bit的亮度和颜色校正。随着MLED成本持续降低,会越来越多应用到商业显示和消费级市场,应用规模巨量增长,传统LED出厂后拼接再校正的应用方式,无法满足规模化标准化生产的需求,MLED必须在厂内完成在线校正,确保显示一致性,高画质呈现。为解决这一行业高难度问题,诺瓦推出全自动Demura设备。设备集成深耕多年的逐点亮色度校正算法,通过检测屏幕均匀性和表面缺陷,快速调校亮色度偏差(mura),在产线上即可实现显示屏亮度色度表达的均匀性与一致性,为MLED的量产提供了有力支撑。
 
△诺瓦星云MLED Demura设备
 
 
难点2:巨量转移的质量检测与修复
 
巨量转移作为MLED量产核心技术前提。在转移数千万计的晶粒到电路基板上后,如何快速点亮与检测显示性能,发现问题后又如何快速修复,是降低成本的关键环节。
诺瓦星云点亮检测机,除了常规的死灯,困扰行业的暗灯、侧视角亮灯和暗灯等20多项质量监控点外,还能通过软件与算法,进行工艺水平分析,准确定位问题。诺瓦星云全自动返修设备,通过自动光学检测、算法融合处理,快速识别MLED发光芯片显示异常问题,继而通过机械、电气、视觉、激光等多领域核心技术的融合创新,实现对异常灯珠的快速替换,实现高精度、高品质、高效率的返修,确保每次完美修复。
 

△诺瓦星云MLED全自动返修设备

 
难点3:墨色一致性问题
 
MLED显示屏,既要高通透性提升亮度,又要静态视觉高度一致,对墨色要求极高。
诺瓦星云MLED墨色分档系统,内嵌诺瓦人眼视觉和环境感知智能算法、墨色量化算法,有效解决MLED覆胶墨色非均匀性这一行业难题,更精准地还原应用场景光感和人眼视觉感知,灵活应用分类、排序等多样的分拣方案,降低库存成本,满足高端应用品质要求。
△诺瓦星云MLED墨色分档/多角度检测设备
 
 
难点4:多视角一致性问题
 
MLED显示进入消费级市场,需面临人眼视觉多视角的严苛检验。
为解决MLED多视角的显示一致性问题,诺瓦星云MLED多角度检测系统,通过多视角高精度亮色度采集,搭配诺瓦人眼感知智能算法,优化显示侧视角效果。不但要正视角的高品质显示,也要侧视角的完美表现。
 
诺瓦星云MLED核心检测装备,实现MLED显示屏点亮、检测、校正、返修等全流程的智能化管理。
在生产端,大幅提升MLED显示面板的良率和生产效率,助推生产标准化;在应用端,带来更好的显示效果,全链路提升MLED产品高品质管理,助力MLED显示行业突破生产与应用瓶颈,MLED显示屏标准化、规模化制造。诺瓦星云MLED核心检测装备,助力MLED显示价值成长。
 
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