LC-V型/LC-S型LED芯片颗粒计数仪分析系统整合了高清晰度数字技术来鉴别最困难的计数问题。该LED芯片专用计数仪通过高速的图像获取及视觉识别处理，准确、快速地计数LED芯片，操作简单，使用方便。用于LED芯片外延片面积测试，同样也适用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等抛光片外延片的面积测试。
该仪器包括新型的照明配置，以确保均匀一致的照明和LED目标增强。软件能在数据库中储存每次计数分析的结果，以便于打印或追溯对比分析。LC-V型为拍照成像型的优点是成像速度快（<1秒），缺点是成像的背光没扫描成像型的均匀，分析正确率略低于扫描成像型的；而LC-S型为扫描成像型的优点是成像的背光非常均匀，分析正确率高，缺点是600dpi成像2个4"（扩完片150mm直径）的大圆片约需耗时30~60秒，对微机的性能要求更高。
LC-V型/LC-S型LED芯片颗粒计数仪分析系统性能参数：
1．成像特性
镜头：4.5～10mm可变焦、F1.6、1/2”C接口的高保真光学镜头(LC-V型)
CMOS规格：500万像素(LC-V型)，真彩
像素分辨率：LC-V型150mm/1944像素=0.077mm。LC-S型为216mm/4800像素=0.045mm
图像拍摄：手动对焦，可专业级地精细成像在任意LED芯片平面上（LC-V型）
图像调整：具有图像亮度、对比度、饱和度调整功能，调整值自动记忆保存
图像观察：具有任意放大、缩小、局部观察功能
2．无影光源（LC-V型）：
创新的无影光源（专利号：ZL 2006 2 0140184.2），具有立体背光模式的无影照明成像方式，可确保均匀一致的照明和最佳LED芯片成像
3．检测统计：
全自动LED芯片计数：可计数红、绿、蓝等各色LED芯片总数，显示和输出计数结果
适用芯片尺寸：可计数分析和定位的不透明LED芯片≥5mil (或0.127mm)，11×11、10×10、9×9、8×8、7×7、5×5mil×mil均可用。
计数速度：6～20万LED芯片/秒
计数误差≤0.1‰
最大芯片计数量≥20万pcs
计数准确、快速，全程电脑控制，高效，准确，方便，只点一下即完成全部计数。
实测2"圆片，计数6.46万粒LED芯片的耗时为0.219秒，能精确分析计数局部粘连在一起的芯片，手工修正率≤0.01%，批量检测每小时最快可达计数720个组板（LC-S型优点是按600dpi成像计数8张直径2寸圆片（扩完片后为80mm直径），或2个4寸大圆片（扩完片后为150mm直径），或任何形状的碎片面积进行测试）
简便易用：真正一键式操作，鼠标一点，结果即现。软件界面友好，提供帮助功能
辅助删补：用鼠标选择增加/删除，或直接用鼠标在屏上手工计数，以确保100%正确
形态分析：分析全部芯片的直径、面积、间距波动等形态信息
目标区的个性化计数区：对视野工作区预选直径范围或矩形范围内的LED芯片计数
4．数据库功能：
可进行产量统计，预留数据输出接口，全面兼容EXCEL、ACCESS、SQL等数据库软件
存储：分析图像和分析结果可数据库存储，或导出为PDF、WORD文件、Excel表格，以便于进一步分析
查询：按编号、操作者、备注字段自动搜索查询，图像与全部统计数据重新显示
5．报表打印：
可快速生成PDF、WORD和EXCEL格式的专业计数报告：彩色图像、芯片组ID号、计数结果数据表、参数配置、使用者和日期时间在报告中自动生成
在线编辑：具有对统计结果构成报表的在线编辑功能
报表打印：图像、计数结果和编辑内容等全部结果信息
6．仪器规格与配置
适用视野工作区尺寸：30～150mm
配套设备：LC-V型为自动计数仪1台（包含立体背光模式的漫反射色无影照明部件1套、透明玻片2块等）；LC-S型为高清晰扫描仪1台。LC系列用户手册1本，软件系统光盘1张。（计算机需另配，内存≥2GB）
仪器总尺寸、总重量：宽×深×高=26cm×24cm×38cm，～7Kg 联系方式联 系 人：  沈虹女士  在线联系：   
电　　话：  0571-89714590  移动电话：  13325713886
传　　真：  没有提供  地　　址：  浙江省杭州市西湖区文二西路11号嘉乐金座418室 
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