产品简介：
HP9000LED芯片光色电参数综合测试仪由LED光色电特性分析系统和LED芯片测试平台组成。专用芯片测量平台由样品台，三维探针架，光强测试支架，显微镜和电路控制盒等部分构成，光强测量需用CIE-A条件，光纤耦合，能够快速平稳地点亮各种LED芯片，配合光谱测试系统即可测量芯片的各种光电色参数，具有测量参数分档显示功能，方便与各种分光分色测试机配置。 联系方式联 系 人： 李文青女士 在线联系：
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